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X射线荧光光谱法测定掺锡氧化铟粉中铟量和锡量

Determination of Indium and Tin in Tin-doped Indium Oxide Powder by X-ray Fluorescence Spectrometry
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摘要 用X射线荧光分析专用试剂熔片,溴化锂为脱模剂,制备玻璃片样片,进行实验条件优化选择,应用X射线荧光光谱法测定掺锡氧化铟粉中铟量、锡量,具有较高的准确度和精密度。 The glass sample was prepared with the special reagent melt for X-ray fluorescence analysis and lithium bromide as the release agent. The experimental conditions were optimized. The content of indium and tin in tin doped indium oxide powder was determined by X-ray fluorescence spectrometry, which has high accuracy and precision.
作者 李凤 赖馥馨 李婵贞 Li Feng;Lai Fuxin;Li Chanzhen(Guangxi Zhuang Autonomous Region Metallurgical Product Quality Inspection Station,Nanning Guangxi 530023)
出处 《山西冶金》 CAS 2022年第1期7-8,11,共3页 Shanxi Metallurgy
基金 广西基地和人才专项资助(桂科AD1729066) 广西分析测试研究中心自主科研项目资助(2017ACZ04)。
关键词 X射线荧光光谱法 掺锡氧化铟粉 铟量 锡量 X-ray fluorescence spectrometry tin doped indium oxide powder indium content tin content
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