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静电放电对试验任务测试设备的影响及防护
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摘要
本文对靶场测试中出现的一例远程控制台T0驱动支路光耦器件失效故障,结合光耦器件工作原理,对其失效机理进行了分析,并采用静电放电发生器模拟现场环境的技术方法,确定了该失效产生的原因。通过对光耦器件静电放电敏感度测试结果分析,提出合理的消除静电危害的措施,以减少静电放电对测试设备影响。
作者
丁磊
徐慧娟
潘涛
机构地区
中国人民解放军
中国人民解放军
出处
《军民两用技术与产品》
2020年第10期54-58,共5页
Dual Use Technologies & Products
关键词
静电放电
光耦失效
防护措施
分类号
TP3 [自动化与计算机技术—计算机科学与技术]
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