摘要
目的探讨热性惊厥(FS)患儿日后癫痫发生与其临床和脑电图(EEG)特征的关系。方法对本院收治的145例FS患儿的临床资料和EEG特征进行检查,并分析其与日后癫痫发生的相关性。结果 145例FS患儿中,EEG结果显示正常患儿93例(64.13%);异常患儿52例(35.86%)。患儿出现EEG异常与年龄、FS家族史、发热温度、持续时间、FS类型以及24h内发作次数有关。EEG异常患儿日后发生癫痫39例,发生率为75%。此外EEG显示异常日后发生癫痫患儿中,15例额区放电日后发生癫痫14例(93.33%),19例枕区放电16例(84.21%)发生癫痫,13例Rolandic区放电8例(61.54%)发生癫痫,5例广泛性棘慢波者日后发生癫痫的有1例(20%)。结论 EEG检查异常的FS患儿中,中枕区和额区阵发性异常放电者更容易日后发生癫痫,在临床应该引起足够的重视。
出处
《现代诊断与治疗》
CAS
2016年第11期1981-1982,共2页
Modern Diagnosis and Treatment
