数字集成电路测试系统的研制被引量：11

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摘要介绍了基于向量测试法的测试系统的原理、结构组成以及各功能模块的工作过程。本系统是有关技术人员在总结多年的实际测试经验并参考国外同类测试系统的基础上开发成功的，生产成本较低、性能可靠，是一种适合于国内半导体行业的实际生产情况的测试系统。

作者楼冬明陈波

机构地区杭州士兰电子有限公司

出处《电子技术应用》北大核心 2001年第4期42-44,共3页 Application of Electronic Technique

关键词数字集成电路测试系统测试向量调制

同被引文献33

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电子技术应用

2001年第4期

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