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一种智能数字集成电路测试仪 被引量:1

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摘要 本文介绍一种采用单片微型计算机的智能数字集成电路测试仪的测试原理,系统硬件结构及软件设计.
作者 史燕 范俊波
出处 《电测与仪表》 北大核心 1990年第2期17-18,26,共3页 Electrical Measurement & Instrumentation
  • 相关文献

参考文献1

  • 1张瑞良.TTL逻辑电路测试仪[J]电测与仪表,1986(06).

同被引文献6

引证文献1

二级引证文献1

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