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辐射效应对SRAM型FPGA可靠性的影响分析 被引量:1

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摘要 分析了空间辐射环境对SRAM型FPGA可靠性的影响,总结归纳了空间应用SRAM型FPGA的故障模式,供FPGA产品设计人员参考。
出处 《质量与可靠性》 2012年第1期4-6,共3页 Quality and Reliability
  • 相关文献

参考文献2

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同被引文献8

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引证文献1

二级引证文献10

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