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ICP-MS法测定电子电器材料中的有害元素铅、镉、砷、铬
被引量：
2
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摘要
建立了电感耦合等离子体质谱测定不同基体的电子电器材料中铅、镉、铬、砷四种有害元素的方法.对仪器的参数、测试稳定性等作了系统研究,优化了对不同基体样品中铅、镉、铬、砷元素分析的前处理条件,探讨了各种材料中基体元素与其它共存元素对待测元素的影响.方法检出限为0.0024—0.46μg.g-1,对标准物质的测定值与参考值相符,相对准偏差为0.6%—5.8%.
作者
张华
王英锋
施燕支
陈玉红
李平
John Lau
Steven Wilbur
机构地区
首都师范大学分析测试中心
安捷伦科技有限公司
出处
《环境化学》
CAS
CSCD
北大核心
2006年第5期657-660,共4页
Environmental Chemistry
关键词
有害元素
电器材料
质谱测定
ICP-MS法
电子
电感耦合等离子体
铅
镉
分类号
X132 [环境科学与工程—环境科学]
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