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新型磁粉探伤设备控制系统的研究与开发 被引量:1

Research and Development on the New Type of Control System for Magnetic Particle Flaw Detector
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摘要 将可编程控制器应用于可控硅触发及时序控制,研制开发出一种用于磁粉探伤设备的新型可控硅移相触发及时序控制系统。该系统结构更趋于合理,具有更强的抗干扰性,增加了系统的通用性、可靠性和先进性,提高了整体控制精度。 Applying PLC in phaser and time sequence control of controllable silicon,a new type of control system used to control the phaser and time sequence of controllable silicon has been developed for the magnetic particle flaw detector.With the appropriate structure,the control system works steadily and reliably.Antiinterference and control accuracy of the system are greatly improved.
出处 《吉林大学学报(工学版)》 EI CAS CSCD 北大核心 2003年第1期73-76,共4页 Journal of Jilin University:Engineering and Technology Edition
关键词 磁粉探伤设备 可编程控制器 控制系统 可控硅触发 时序控制 magnetic particle flaw inspection programmable logical controller auto-control system
  • 相关文献

参考文献3

  • 1周原 刘明山.可编程控制器在连杆自动检测线上的应用[J].吉林工业大学自然科学学报,2000,.
  • 2周原.一种新型可控硅移相触发控制系统[Z].第七届全国无损检测年会,重庆,1996.
  • 3朱绍祥,张宏生,殷锡章.可编程控制器原理与应用[M].上海:上海交通大学出版社,1991.

同被引文献3

引证文献1

二级引证文献7

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