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晶体管输出特性曲线测试仪设计 被引量:7

Design of test instruments for transistor output characteristics curves
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摘要 介绍了一种基于纯模拟电路设计实现的晶体管输出特性曲线测试仪。说明了该设计的总体原理,并详细阐述了主要单元电路的设计思想和要点。实验结果表明,该测试仪与通用示波器配合,可以观察到清晰稳定的晶体管输出特性曲线。与专用的晶体管特性图示仪相比,该测试仪的成本低,且操作简单,在电子电路实验教学和一些工程应用中可代替晶体管特性图示仪使用。 The principle of a kind of test instruments for transistor output characteristics curves based on pure analog circuits is introduced.The overall block diagram of the instrument is described,and the design ideas and points of the main unit circuits are elaborated in detail.The experiment results show that the instrument with general oscillograph can be used to observe the clear and stable output characteristic curves of transistors.Compared with the special transistor characteristic exhibit instrument,this instrument is cheaper,and its operation is simpler.Therefore it can replace the transistor characteristic exhibit instrument in the electronic circuit experiment teaching and some project application.
出处 《实验技术与管理》 CAS 北大核心 2011年第1期59-61,73,共4页 Experimental Technology and Management
关键词 晶体管 输出特性曲线 示波器 运算放大器 transistor output characteristics curve oscillograph operational amplifier
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