摘要
对硫化锌粉料、硫化锌半导体微晶薄膜进行了Ｘ射线光电子发射谱剖析。获得粉料、薄膜表层及表层下的电子态信息，揭示了硫化锌粉料。
: On the basis of analysis on XPS (X-ray photoelectron spectroscopy) technique the information on electron states of ZnS powder, ZnS thin film surface and internal layer is obtained.The effect of the microstructure of ZnS powder and ZnS thin film on electroluminescent characteristics is revealed.
出处
《半导体光电》
EI
CAS
CSCD
北大核心
1997年第6期380-382,共3页
Semiconductor Optoelectronics
基金
福建省自然科学基金
关键词
半导体微晶薄膜
Ⅱ-Ⅵ族
化合物半导体
: Semiconductor Microcrystalline Thin Film,X-ray Photoelectron Spectroscopy(XPS),Electron State,Microstructure
