X射线荧光光谱分析基础
出处
《分析仪器》
CAS
2008年第2期25-25,共1页
Analytical Instrumentation
-
1陈永君,邓赛文,马天芳,任家富.工业镀层及涂层厚度分析——同位素X射线荧光光谱法[J].分析测试学报,1998,17(3):61-63. 被引量:3
-
2岛津能量色散型与微区能量色散型X射线荧光光谱介绍[J].现代科学仪器,2003(5):77-77. 被引量:1
-
3张红菊,张丁非,余大亮,郭胜锋.X射线荧光光谱无标样分析在轻合金中的应用[J].分析试验室,2017,36(2):147-149. 被引量:10
-
4谢荣厚,高新华,邬时海.X射线荧光光谱分析进展[J].冶金分析,1997,17(2):34-38. 被引量:10
-
5史梨花,袁长生.X射线荧光光谱熔融片法测定铜矿中的主次元素[J].江西建材,2013(3):251-252. 被引量:4
-
6邢玉富.ARL8420^+X射线荧光光谱仪真空泵故障维修[J].分析测试仪器通讯,1994,4(3):37-37.
-
7刘笛,吴锁贞.粉煤灰中硫形态的X射线荧光光谱法初探[J].常熟理工学院学报,2006,20(2):94-96. 被引量:3
-
8屈小荣,李辉林,赵玮,申梅桂,张发莲,刘喜业.X射线荧光光谱法快速测定氯化钾产品中钾、钠、钙、镁的含量[J].分析仪器,2013(6):29-32. 被引量:1
-
9帕纳科PITTCON2015新品发布:Zetium多功能X射线荧光光谱[J].中国材料科技与设备,2015,11(2):63-63.
-
10高新华,王毅民,茅祖兴.波长色散X射线荧光仪器进展[J].光谱学与光谱分析,1995,15(3):107-112. 被引量:8
;