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热丝法低温生长硅上单晶碳化硅薄膜 被引量:5

Growth of SiC Single Crystal Film on Si at Low Temperature by Hot Filament Chemical Vapor Deposition
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摘要 提出了热丝化学气相淀积法,在低温(600-750℃)下成功地生长出硅上单晶碳化硅薄膜,X光衍射谱、喇曼光谱证实了外延膜的单晶结构,光致发光测量证明外延SiC材料室温下可稳定发射可见光。 A new SiC film growth method- hot-filament chemical vapor deposition(HFCVD) has beendeveloped,which is successfully used to grow single crystal SiC films on Si substrates at low temperature(600-750℃). The results of X-ray diffraction analysis and Raman scattering spectroscopy indicated theexistence of a monocrystalline structure of the epilayer.Visible light emitting was observed inphotoluminescence experiments at room temperature.
机构地区 南京大学物理系
出处 《高技术通讯》 CAS CSCD 1994年第11期10-13,共4页 Chinese High Technology Letters
基金 国家教委跨世纪人才专项基金 国家自然科学基金
关键词 热丝法 低温生长 碳化硅 单晶 Hot filament method,Low temperature growth,Silicon carbide,Single crystal,Thinfilm
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