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阻抗加载对导体柱微波成像的影响

Effects of Impedance Loading on Microwave Imaging of Conducting Cylinders
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摘要 本文研究阻抗加载对雷达目标微波成像的影响。首先以一个表面多阻抗加载导体圆柱为例,详细分析了它在不同加载波参数下的理论成像结果,然后讨论了在微波暗室中对实际缩比模型的实验成像结果。研究表明,有载目标将对成像制导技术带来很大威胁,加载技术可使目标强散射源平滑,产生分布式多散射源甚至扩展到目标尺度以外。因此,有载目标微波成像及其特征提取是一个新的研究方向。 The effects of impedance loading on microwave imaging of radar target are inves-tigated.The theoretical imaging results of a conducting circular cylinder loaded by multiple surfaceimpedances are analyzed in detail for various loading parameters,and the experimental ones of sev-eral scale cylinders loaded by multiple cavity-backed slots also discussed.It is shown that,loadingtechnology makes the strong scattering sources of odject smooth,and produces multiple distributedscattering sources that even lie beyond the extent of object,which brings about a serious threat toimaging and guidanee techniques of radar target.Therefore,it is a new subject to study microwaveimaging and signature extraction of loaded targets.
出处 《系统工程与电子技术》 EI CSCD 1994年第6期62-71,共10页 Systems Engineering and Electronics
关键词 微波成像 雷达目标 电磁波散射 阻抗加载 Impedance loading,Microwave imaging,Radar target,Electromagnetic scat- tering.
  • 相关文献

参考文献2

二级参考文献5

  • 1肖志河,1989年
  • 2黄培康,宇航学报,1988年,4期
  • 3Li H J,IEEE Trans AP,1987年,35卷,5期,581页
  • 4许小剑,1986年
  • 5《系统工程与电子技术》1984年总目录[J]系统工程与电子技术,1984(12).

共引文献12

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