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薄透明体厚度及折射率的测量被引量：14

Measurement of the thickness and refractive index of thin transparency

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摘要介绍了测量薄透明体厚度及折射率的一种方法. A method of measuring the thickness and refractive index of thin transparency is introduced.

作者赵斌

机构地区武汉工业学院基础部

出处《大学物理》北大核心 2004年第2期47-48,共2页 College Physics

关键词迈克耳孙干涉仪白光干涉薄透明体 Michelson interferometer interference of white light thin transparency

分类号 O436 [机械工程—光学工程]

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参考文献1

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2004年第2期

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