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高阶奇异点附近两个光学微腔间弱耦合强度的测量
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作者 覃情 武俊杰 +3 位作者 徐睿 林功伟 叶明勇 林秀敏 《量子光学学报》 北大核心 2024年第1期7-13,共7页
采用模式劈裂技术测量目标参数是光学传感领域内常见的方法。但这种方法可检测的最小目标参数值不仅受限于系统的总损耗,还受制于模式劈裂与目标参数间的函数依赖关系。非厄米系统中的奇异点是指本征值和本征态发生合并的特殊参数位置... 采用模式劈裂技术测量目标参数是光学传感领域内常见的方法。但这种方法可检测的最小目标参数值不仅受限于系统的总损耗,还受制于模式劈裂与目标参数间的函数依赖关系。非厄米系统中的奇异点是指本征值和本征态发生合并的特殊参数位置。通过将系统调节至奇异点状态以进行传感操作,可以降低探测对象的下限值。本文以回音壁模式光学微腔为研究对象,提出了一种将系统调至高阶奇异点附近去测量两个光学微腔之间的微弱耦合强度的方案。通过改变参与的辅助光学微腔的数量,我们能够灵活控制奇异点的阶数。结果表明,当系统包含n个光学微腔时,可以实现n阶奇异点,并且随着n的增加,所能探测到的两个光学微腔间耦合强度的最低值也会随之下降。 展开更多
关键词 奇异点 传感 弱耦合强度 模式劈裂 回音壁模式光学微腔
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