期刊文献+
任意字段
题名或关键词
题名
关键词
文摘
作者
第一作者
机构
刊名
分类号
参考文献
作者简介
基金资助
栏目信息
共找到3篇文章
< 1 >
每页显示 20 50 100
已选择0条
导出题录 引用分析
参考文献
引证文献
 统计分析
检索结果
已选文献
显示方式：
倍频移相扫描法电光采样测量 被引量：3
1
作者 田小建 衣茂斌 +3 位作者 孙伟 贾刚 孙建国 马振昌 《红外与毫米波学报》 SCIE EI CAS CSCD 北大核心 1997年第3期189-192,共4页
分析了倍频移相扫描法的工作原理，介绍了用倍频移相扫描法构成的电光采样测量系统．测量了高速ＧａＡｓ动态分频器集成电路芯片，并给出分频关系波形的测量结果．
关键词 移相扫描 电光采样 集成电路芯片 分频
在线阅读 下载PDF
GaAs集成电路芯片在片直接故障检测分析
2
作者 田小建 张大明 +1 位作者 孙伟 衣茂斌 《激光杂志》 EI CAS CSCD 北大核心 2000年第2期23-24,共2页
介绍了一种实用的电光采样测试系统 ,其稳定的光学系统结构可保持精度几年不变 ,单位带宽电压灵敏度为 2 5 2mV/Hz。改进了电子移相扫描法 ,利用倍频移相扫描法对GaAs动态分频器芯片故障进行了在片检测分析。
关键词 集成电路芯片 故障检测 砷化镓
在线阅读 下载PDF
用于GaAs高速集成电路芯片的电光采样分析仪
3
作者 田小建 孙伟 衣茂斌 《电子测量与仪器学报》 CSCD 2000年第4期45-48,共4页
本文介绍了一种实用的电光采集分析仪 ,其稳定的光学系统结构可保持精度几年不变 ,单位带宽电压灵敏度为 2 52mV/Hz ,空间分辨率 3μm ,测量带宽 2 0GHz。用此分析仪对GaAs高速动态二分频器芯片进行了在片测试 ,其测量波形与理论分析... 本文介绍了一种实用的电光采集分析仪 ,其稳定的光学系统结构可保持精度几年不变 ,单位带宽电压灵敏度为 2 52mV/Hz ,空间分辨率 3μm ,测量带宽 2 0GHz。用此分析仪对GaAs高速动态二分频器芯片进行了在片测试 ,其测量波形与理论分析一致。 展开更多
关键词 电光采样 集成电路芯片 分析仪
在线阅读 下载PDF
已选择0条
导出题录 引用分析
参考文献
引证文献
 统计分析
检索结果
已选文献
上一页 1 下一页 到第 页
使用帮助 返回顶部