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工艺条件对YBCO厚膜基带晶粒取向的影响 被引量：1
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作者 刘春芳 唐辉 +1 位作者 徐净人 周廉 《稀有金属材料与工程》 SCIE EI CAS CSCD 1994年第4期42-45,共4页
用Ｘ射线方法研究了平行于基带表面的Ｎｉ（２０Ｏ），Ｎｉ（１１１），ＮｉＯ（２００）和ＮｉＯ（１１１）晶面的取向分数Ｗ。结果表明，随预热处理温度的提高，虽然Ｗ_（ＮｉＯ（２００））也会随之提高，但是区域重加热处理对提高Ｗ... 用Ｘ射线方法研究了平行于基带表面的Ｎｉ（２０Ｏ），Ｎｉ（１１１），ＮｉＯ（２００）和ＮｉＯ（１１１）晶面的取向分数Ｗ。结果表明，随预热处理温度的提高，虽然Ｗ_（ＮｉＯ（２００））也会随之提高，但是区域重加热处理对提高Ｗ_（ＮｉＯ（２００））起着最重要的作用。９００℃预热处理之后，在１１００℃进行区域重加热可使Ｗ_（ＮｉＯ（２００））提高到０．９９以上。 展开更多
关键词 晶粒取向 ybco化合物 厚膜
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