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题名基于March C+算法的RAM内建自测试设计
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作者
刘兴辉
孙守英
程宇
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机构
辽宁大学物理学院
北京宏思电子科技有限公司
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出处
《辽宁大学学报（自然科学版）》
CAS
2018年第2期125-128,共4页
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基金
辽宁省教育厅研究生教育教学改革项目(辽教函[2017]24号)
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文摘
为解决HSC32K1芯片传统测试的不足,基于March C+算法的内建自测试(Built In Self Test,BIST)方法,并利用perl语言调用Mbist Architect工具自动产生March C+算法,生成时间只需要3.5 s,相比手动编写算法代码几十分钟甚至几小时来说缩短了测试时间,提高了测试效率。仿真结果表明,提出的测试方法,可以有效地达到测试效果。该方法可以推广到对其他芯片进行测试,适用性强.
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关键词
PERL语言
MARCH
C+算法
HSC32K1芯片
内建自测试
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Keywords
Perl language
March C＋ algorithm
hsc2kl chip
Built In Self Test
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分类号
TN407
[电子电信—微电子学与固体电子学]
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