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28 nm Polarfire FPGA单粒子瞬态脉冲宽度检测技术研究
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作者 杨华锦 陈伟 +4 位作者 郭晓强 汤晓斌 陈飞达 张凤祁 王坦 《现代应用物理》 2023年第4期176-183,共8页
本文依据28 nm Polarfire FPGA内部资源布局特点对两种SET脉冲宽度检测电路进行结构设计。以故障注入方式,从时间分辨率、检测精度、宽度测量阈值、死时间以及资源占用这5个TDC电路功能指标出发,研究两种SET脉冲宽度检测电路的差异,并... 本文依据28 nm Polarfire FPGA内部资源布局特点对两种SET脉冲宽度检测电路进行结构设计。以故障注入方式,从时间分辨率、检测精度、宽度测量阈值、死时间以及资源占用这5个TDC电路功能指标出发,研究两种SET脉冲宽度检测电路的差异,并分析影响SET脉冲宽度检测电路的因素。结果表明:在Polarfire FPGA中,当两种检测电路的理论SET脉冲宽度检测范围相同时(86~1 000 ps),可变延时脉冲宽度检测电路的资源占用相对较小,但检测精度比抽头延时脉冲宽度检测电路低约43 ps,检测阈值高约200 ps,且存在有1.4 ns的死时间。综合对比结果,在Polarfire FPGA中检测宽脉冲(>344 ps)选用抽头延时脉冲宽度检测电路,而窄脉冲选用可变延时脉冲宽度检测电路进行检测。 展开更多
关键词 单粒子瞬态效应 单粒子瞬态脉冲宽度 现场可编程门阵列 抽头延时脉冲宽度检测电路 可变延时脉冲宽度检测电路
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D触发器在脉冲宽度检测电路中的应用 被引量:1
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作者 苏成富 《电子技术(上海)》 北大核心 1993年第5期29-30,42,共3页
D触发器是一种常用的数字集成电路。用D触发器和外接电阻、电容可以构成单稳态触发器。本文就用CMOS双D触发器CC4013构成的单稳态触发器在脉冲宽度检测电路中的几种应用作一介绍。
关键词 检测电路 触发器 脉冲宽度检测
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单稳电路CD4528的扩展应用——脉冲宽度的检测 被引量:1
3
作者 苏成富 《无线电》 2000年第11期30-31,共2页
关键词 脉冲宽度检测 单稳电路 CD4528
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矿井小车测速及报警系统
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作者 徐亮亮 梁改革 王加加 《河南科技》 2010年第2X期20-20,共1页
介绍了利用半导体激光二极管(红外波段的)、光敏二极管以及单片机检测矿井弯道处有无小车通过,并检测出小车的速度,在弯道的另一端向工作人员进行声光报警,速度的实时显示。
关键词 半导体激光二极管 光敏二极管 T触发器、单片机 脉冲宽度检测
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基于单片机和光敏二极管的矿井小车测速及报警系统
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作者 李青 霍攀 柴炜 《商情》 2010年第13期85-85,共1页
本文介绍了利用半导体激光二极管(红外波段的)、光敏二极管以及单片机检测矿井弯道处有无小车通过,并检测出小车的速度,在弯道的另一端向工作人员进行声光报警,速度的实时显示。
关键词 半导体激光二极管 光敏二极管 脉冲宽度检测
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一种防止错误锁定的延迟锁相环的设计 被引量:1
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作者 刘成 郭晓锋 +2 位作者 刘静 王正文 黎美 《中国集成电路》 2017年第9期26-29,65,共5页
延迟锁相环在集成电路中有着广泛的应用,能够实现不同时钟的相位同步和占空比校正的功能。本文首先分析了延迟锁相环的基本工作原理,并基于锁相环在锁定过程中容易出现错误锁定的现象,通过增加脉冲宽度检测电路,优化延迟锁相环系统,提... 延迟锁相环在集成电路中有着广泛的应用,能够实现不同时钟的相位同步和占空比校正的功能。本文首先分析了延迟锁相环的基本工作原理,并基于锁相环在锁定过程中容易出现错误锁定的现象,通过增加脉冲宽度检测电路,优化延迟锁相环系统,提出了一种防止错误锁定的延迟锁相环。最后给出了延迟锁相环在DDR存储器系统中的典型应用,并对延迟锁相环进行了流片后的测试。 展开更多
关键词 延迟锁相环 脉冲宽度检测 占空比校正电路
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Artifacts of Functional Electrical Stimulation on Electromyograph
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作者 DUAN Ren-quan ZHANG Ding-guo 《Chinese Journal of Biomedical Engineering(English Edition)》 2014年第4期139-145,共7页
The purpose of this study is to investigate different factors of the artifact in surface electromyography(EMG) signal caused by functional electrical stimulation(FES). The factors investigated include the size of stim... The purpose of this study is to investigate different factors of the artifact in surface electromyography(EMG) signal caused by functional electrical stimulation(FES). The factors investigated include the size of stimulation electrode pads, the amplitude, frequency, and pulse width of the stimulation waveform and the detecting electrode points. We calculate the root mean square(RMS) of EMG signal to analyze the effect of these factors on the M-wave properties. The results indicate that the M-wave mainly depends on the stimulation amplitude and the distribution of detecting electrodes,but not on the other factors. This study can assist the reduction of artifact and the selection of detecting electrode points. 展开更多
关键词 electromyography (EMG) ARTIFACT functional electrical stimulation(FES) root mean square (RMS)
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