考虑工作负载影响的电路老化预测方法 被引量：16

1

作者 靳松 韩银和 +1 位作者 李华伟 李晓维 《计算机辅助设计与图形学学报》 EI CSCD 北大核心 2010年第12期2242-2249,共8页

晶体管老化效应已成为影响集成电路可靠性的重要因素.文中基于晶体管老化效应的物理模型,提出一种电路老化分析框架来预测集成电路在其服务生命期内的最大老化.首先计算出在最坏操作情况下电路老化的上限值;随后通过考虑工作负载和电路... 晶体管老化效应已成为影响集成电路可靠性的重要因素.文中基于晶体管老化效应的物理模型,提出一种电路老化分析框架来预测集成电路在其服务生命期内的最大老化.首先计算出在最坏操作情况下电路老化的上限值;随后通过考虑工作负载和电路的逻辑拓扑对老化效应的影响,采用非线性规划求得会导致最大电路老化的最差占空比组合.实验结果表明,与同类方法相比,该老化分析框架对电路老化的预测具有更高的精度,更接近于电路在实际工作条件下的老化情况. 展开更多

关键词 负偏置温度不稳定性 电路老化 占空比 非线性优化

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一种缓解NBTI效应引起电路老化的门替换方法 被引量：12

2

作者 梁华国 陶志勇 李扬 《电子测量与仪器学报》 CSCD 2013年第11期1011-1017,共7页

45 nm工艺下,负偏置温度不稳定性(negative bias temperature instability,NBTI)效应是限制电路的性能的首要因素。为了缓解NBTI效应引起的电路老化,提出了1个基于门替换方法的设计流程框架和门替换算法。首先利用已有的电路老化分析框... 45 nm工艺下,负偏置温度不稳定性(negative bias temperature instability,NBTI)效应是限制电路的性能的首要因素。为了缓解NBTI效应引起的电路老化,提出了1个基于门替换方法的设计流程框架和门替换算法。首先利用已有的电路老化分析框架来预测集成电路在其服务生命期内的最大老化,然后以门的权值作为指标来识别关键门,最后采用门替换算法对电路中的部分门进行替换。基于ISCAS85基准电路和45 nm晶体管工艺的试验结果表明,相对于已有的方法,采用文中的门替换方法,使得NBTI效应引起的电路老化程度平均被缓解了9.11%,有效地解决了控制输入向量(input vector control,IVC)方法不适用于大电路问题。 展开更多

关键词 负偏置温度不稳定性 门替换 电路老化

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基于时-空冗余的集成电路老化失效防护方法 被引量：10

3

作者 严鲁明 梁华国 黄正峰 《电子测量与仪器学报》 CSCD 2013年第1期38-44,共7页

集成电路工艺水平进入深亚微米时代后,电路老化效应已成为威胁电路可靠性的新挑战。对电路老化导致的电路失效防护问题进行研究,提出了一种基于时-空冗余技术的失效防护方法。该方法根据老化的行为特征,通过冗余的时序单元对数据路径进... 集成电路工艺水平进入深亚微米时代后,电路老化效应已成为威胁电路可靠性的新挑战。对电路老化导致的电路失效防护问题进行研究,提出了一种基于时-空冗余技术的失效防护方法。该方法根据老化的行为特征,通过冗余的时序单元对数据路径进行加固,并采用多时钟技术控制时序单元的采样过程。当电路出现因老化导致的时序错误时,通过冗余时序单元的二次采样纠正电路错误信号;同时,统一调整电路的时钟相位,保证每条数据路径都满足时序要求,防止电路失效的发生。方法在ISCAS'89基准电路中进行了测试。实验数据表明:在冗余时钟相位差达到时钟周期的20%时,该方法可以有效的将电路的平均故障间隔时间(MTTF)提高1倍以上。 展开更多

关键词 电路老化 失效防护 时-空冗余 可靠性

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应用输入向量约束的门替换方法缓解电路老化 被引量：3

4

作者 李扬 梁华国 陶志勇 《应用科学学报》 CAS CSCD 北大核心 2013年第5期537-543,共7页

为缓解负偏置温度不稳定性(negative bias temperature instability,NBTI)效应引起的电路老化,提高电路可靠性,提出一种在电路待机状态下应用输入向量约束的门替换方法.运用动态和静态的NBTI模型进行感知NBTI的静态时序分析,确定潜在关... 为缓解负偏置温度不稳定性(negative bias temperature instability,NBTI)效应引起的电路老化,提高电路可靠性,提出一种在电路待机状态下应用输入向量约束的门替换方法.运用动态和静态的NBTI模型进行感知NBTI的静态时序分析,确定潜在关键路径,考虑路径相关性的关键门算法以确定关键门,并生成能使关键门最大限度处于恢复阶段的输入向量.对输入向量无法控制的关键门采用门替换方法进行内部控制.对ISCAS标准电路的实验结果表明,电路时序余量为5%时,该方法的平均门替换率降低到9.68%,时延改善率提高到39.65%. 展开更多

关键词 电路老化 NBTI 输入向量 门替换

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电路老化试验箱恒温控制系统的设计 被引量：3

5

作者 杨新盛 顾媛媛 《国外电子测量技术》 2009年第8期45-47,共3页

针对电路老化试验箱温度控制精度较高的要求和温度控制系统的大时滞、非线性特性,设计出一种基于固态继电器和自整定PID算法的恒温控制系统。该设计方法采用固态继电器提高了系统的可靠性,采用自整定PID算法简化了控制器参数的设置,提... 针对电路老化试验箱温度控制精度较高的要求和温度控制系统的大时滞、非线性特性,设计出一种基于固态继电器和自整定PID算法的恒温控制系统。该设计方法采用固态继电器提高了系统的可靠性,采用自整定PID算法简化了控制器参数的设置,提高了控制系统的精度。设计给出了基于单片机应用下系统的软、硬件实现方法。 展开更多

关键词 电路老化 恒温控制 固态继电器 自整定PID控制

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数字集成电路老化测试技术 被引量：7

6

作者 吕磊 田云 +1 位作者 曹韧桩 尹燕恒 《电子技术与软件工程》 2017年第24期98-98,共1页

随着大数据时代的悄然而至,集成电路应用的过程中被人们提出了较高要求,为了提升数字集成电路应用的安全性和稳定性,应做好电路老化测试工作,应用先进测试技术提高电路老化测试的准确性。本文首先介绍了电路老化及影响因素,然后分析了... 随着大数据时代的悄然而至,集成电路应用的过程中被人们提出了较高要求,为了提升数字集成电路应用的安全性和稳定性,应做好电路老化测试工作,应用先进测试技术提高电路老化测试的准确性。本文首先介绍了电路老化及影响因素,然后分析了具体的测试技术,最后探究了数字集成电路老化测试的结构设计。 展开更多

关键词 数字集成 电路老化 测试技术 设计分析

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数字电路老化失效预测与防护 被引量：2

7

作者 张璐雅 罗兰 《黑龙江科学》 2015年第12期86-87,共2页

随着半导体工艺的发展,数字电路的性能得到很大的提高,但是电路老化现象变得异常严重。本文针对电路老化现象进行了预测,并提出了相应的防护措施。

关键词 数字电路老化 失效预测 防护

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集成电路老化温度与耗散功率、频率关系的研究 被引量：3

8

作者 王鲁宁 《舰船电子工程》 2009年第9期172-174,共3页

在集成电路的可靠性试验中,耗散功率随着集成电路技术发展而增长,这也是由于温度和集成电路频率作用的关系。因此,在老化环境中,耗散功率会加大对老化的影响。文章将重点讨论在老化环境中,温度和频率的调整对集成电路老化所产生的作用。

关键词 集成电路老化 温度 耗散功率 频率

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基于查找表的电路老化检测传感器设计 被引量：1

9

作者 张海明 汪鹏君 张跃军 《宁波大学学报（理工版）》 CAS 2019年第4期25-31,共7页

通过对电路老化检测与查找表(Look-Up Table,LUT)方法的研究,提出一种基于查找表的电路老化检测传感器设计方案.该方案首先建立老化压控振荡器(Voltage Controlled Oscillator VCO)频率降级?tp和电压压降?VDC的老化模型,通过老化感知电... 通过对电路老化检测与查找表(Look-Up Table,LUT)方法的研究,提出一种基于查找表的电路老化检测传感器设计方案.该方案首先建立老化压控振荡器(Voltage Controlled Oscillator VCO)频率降级?tp和电压压降?VDC的老化模型,通过老化感知电路产生基准频率和老化频率其次,利用相位放大原理得到频差信号,并采用计数基准VCO周期的方式将频差信号量化.然后,按LUT规则将老化信息以电压方式输出.最后,在TSMC 65 nm CMOS工艺下仿真验证,结果表明所设计的老化检测传感器感应分辨率为0.001 8%,老化模型计算值与仿真数据相对误差在9%以内,能够实现电路老化检测的功能. 展开更多

关键词 电路老化 相位比较 查找表 老化检测

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一种针对门替换的电路老化关键门识别方法

10

作者 张桂茂 易茂祥 +2 位作者 缪永 黄正峰 梁华国 《合肥工业大学学报（自然科学版）》 CAS CSCD 北大核心 2015年第12期1648-1651,共4页

为解决现有针对门替换方法的关键门识别方法中存在不可防护的关键门问题,文章提出一种考虑可防护性的关键门识别方法。首先利用现有老化分析流程对电路进行老化预测,得到保护路径集合;然后对保护路径上的门进行可防护性分析,并在可防护... 为解决现有针对门替换方法的关键门识别方法中存在不可防护的关键门问题,文章提出一种考虑可防护性的关键门识别方法。首先利用现有老化分析流程对电路进行老化预测,得到保护路径集合;然后对保护路径上的门进行可防护性分析,并在可防护性约束下识别关键门。基于ISCAS85基准电路和45nm晶体管模型的实验结果,与现有识别方法相比,该方案的关键门实现了全防护,平均时延退化改善率提高到3倍多,达到33.24%。 展开更多

关键词 门替换 电路老化 可防护性 关键门

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基于门替换技术的电路老化检测预防系统设计与实现

11

作者 周瑞云 梁华国 易茂祥 《现代电子技术》 北大核心 2018年第5期120-123,128,共5页

采用传统检测系统存在电路老化数据收集不准确、检测效果差等问题,为了解决该问题,设计了基于门替换技术的电路老化检测预防系统。根据电路老化检测预防原理,架构系统硬件结构框图,并对传感器和即压控振荡器电路进行设计;利用等精度测... 采用传统检测系统存在电路老化数据收集不准确、检测效果差等问题,为了解决该问题,设计了基于门替换技术的电路老化检测预防系统。根据电路老化检测预防原理,架构系统硬件结构框图,并对传感器和即压控振荡器电路进行设计;利用等精度测量原理选取最优输入控制向量、设置路径保护、识别关键门、设计缓解老化电路;将传统系统与本文系统的检测预防效果进行对比实验,由实验结果可知,该系统对电路老化数据收集准确,且检测预防效果较好。 展开更多

关键词 门替换技术 电路老化 检测 预防 最优控制向量 识别 等精度测量

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一种基于标准库单元的集成电路老化检测方案

12

作者 孙权 付萌萌 《物联网技术》 2015年第2期32-33,共2页

集成电路老化的影响,随着集成工艺尺寸越来越小而越来越明显。其主要影响表现在增加了电路元件的输入-输出信号的延迟,从而降低了电路工作能力。提出一种基于标准库单元的老化监测,并介绍本设计的简单性和灵活性。设计集成电路时可以设... 集成电路老化的影响,随着集成工艺尺寸越来越小而越来越明显。其主要影响表现在增加了电路元件的输入-输出信号的延迟,从而降低了电路工作能力。提出一种基于标准库单元的老化监测,并介绍本设计的简单性和灵活性。设计集成电路时可以设计使用不同的老化监测模块,通过阅读放置在每个监控寄存器中的"年龄代码"来确定电路元器件的"年龄",从而预防和监测电路的故障。 展开更多

关键词 集成电路老化 热载流子注入 负偏压温度不稳定性 电路监测

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集成电路老化及老化检测技术研究 被引量：1

13

作者 费跃哲 《微处理机》 2020年第2期22-25,共4页

数字集成电路老化会对电路的稳定性与可靠性造成一定的影响,甚至会对电路的安全性造成一定的威胁。针对此问题,对集成电路老化的概念进行了解释,分析了集成电路老化的影响因素,研究了数字集成电路两种常用的老化测试技术,即老化检测技... 数字集成电路老化会对电路的稳定性与可靠性造成一定的影响,甚至会对电路的安全性造成一定的威胁。针对此问题,对集成电路老化的概念进行了解释,分析了集成电路老化的影响因素,研究了数字集成电路两种常用的老化测试技术,即老化检测技术与老化预测技术,并对两种技术进行了对比分析,根据数字集成电路具体情况的不同,运用不同的检测技术。对集成电路老化问题的有效预防与处理提供了有效的帮助与参考。 展开更多

关键词 集成电路老化 老化检测 老化预测

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基于电路故障预测的高速老化感应器 被引量：3

14

作者 王超 徐辉 +1 位作者 黄正峰 易茂祥 《合肥工业大学学报（自然科学版）》 CAS CSCD 北大核心 2013年第12期1447-1450,共4页

CMOS集成电路中由负温度不稳定性效应引起的老化已经严重威胁电路的可靠性,在一些安全关键领域的数字电路系统中老化问题尤为突出,而片上在线老化感应器是有效解决方案。文章提出了一种适应高速芯片使用的新老化感应器,通过利用感应器... CMOS集成电路中由负温度不稳定性效应引起的老化已经严重威胁电路的可靠性,在一些安全关键领域的数字电路系统中老化问题尤为突出,而片上在线老化感应器是有效解决方案。文章提出了一种适应高速芯片使用的新老化感应器,通过利用感应器中稳定检测器的空闲时序,使其具有较好性能和更小的面积开销。在45nm工艺下仿真表明,新结构非常有效。 展开更多

关键词 负偏置温度不稳定性 电路老化 老化感应器 故障预测 可靠性

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针对抗老化门替换技术的关键门识别算法

15

作者 易茂祥 吴清焐 +3 位作者 袁诗琪 张姚 丁力 梁华国 《东南大学学报（自然科学版）》 EI CAS CSCD 北大核心 2018年第3期411-416,共6页

为解决现有门替换技术应用中存在的时延仿真不精确和关键门选取冗余问题,对时序分析方法进行改进,通过引入电路内部节点信息,准确预测电路NBTI老化.然后,提出了一种门替换技术应用下的关键门识别算法,定义了表征门电路抗NBTI老化能力的... 为解决现有门替换技术应用中存在的时延仿真不精确和关键门选取冗余问题,对时序分析方法进行改进,通过引入电路内部节点信息,准确预测电路NBTI老化.然后,提出了一种门替换技术应用下的关键门识别算法,定义了表征门电路抗NBTI老化能力的度量公式,将其作为电路老化关键门的识别依据,用于提高关键门识别精度和效率.基于45 nm PTM工艺库和ISCAS85基准电路的仿真结果表明,应用改进门替换技术进行电路抗NBTI老化设计得到的电路时延退化改善率平均值为25.11%,较现有方案提高13.24%,而反映硬件开销的平均门替换率仅为5.82%,明显低于现有方案的11.95%.因此,所提方案仅以较低的硬件开销便可获得较好的门替换技术抗老化效果. 展开更多

关键词 负偏置温度不稳定性 门替换技术 时序分析 电路老化 关键门

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一种可编程的老化感知触发器设计

16

作者 徐辉 陈玲 汪康之 《佳木斯大学学报（自然科学版）》 CAS 2016年第2期238-241,共4页

随着云计算和大数据时代的到来,人们对集成电路可靠性的要求越来越高.再加上晶体管尺寸及栅氧厚度的不断缩小,NBTI效应已经成为影响集成电路可靠性的重要因素.针对这一问题,提出了一种可编程的老化感知触发器,目的是为了监控老化效应,... 随着云计算和大数据时代的到来,人们对集成电路可靠性的要求越来越高.再加上晶体管尺寸及栅氧厚度的不断缩小,NBTI效应已经成为影响集成电路可靠性的重要因素.针对这一问题,提出了一种可编程的老化感知触发器,目的是为了监控老化效应,避免老化引起的故障.这种设计将有效地提高老化预测的准确性. 展开更多

关键词 负偏置温度不稳定性 电路老化 触发器 可编程 延迟单元

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多约束下寻找关键门的门替换技术缓解电路的NBTI效应

17

作者 周瑞云 易茂祥 黄正峰 《现代电子技术》 北大核心 2018年第22期113-116,共4页

随着晶体管特征尺寸的不断减小,威胁数字电路可靠性的一个重要因素是负偏置温度不稳定性。为了缓解NBTI效应对电路产生的老化影响,文中提出时延约束、路径约束和考虑非门的可防护性约束的多约束下,通过计算门的影响因数的大小来寻找定... 随着晶体管特征尺寸的不断减小,威胁数字电路可靠性的一个重要因素是负偏置温度不稳定性。为了缓解NBTI效应对电路产生的老化影响,文中提出时延约束、路径约束和考虑非门的可防护性约束的多约束下,通过计算门的影响因数的大小来寻找定位关键门集合,用门替换的方法来防护关键门。通过实验进行证明,文中提出的方法不仅识别出的关键门数量少,且更加精准,老化的时延改善率更高。 展开更多

关键词 负偏置温度不稳定性 电路老化 关键门 时延约束 影响因数 门替换

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通航飞机电路老龄化检测方法研究

18

作者 陈欣然 陈玉 魏麟 《电子测试》 2022年第2期104-107,共4页

随着通航飞机的使用年限增长,老龄化问题也日益凸显。通航飞机的老龄化主要体现在电路老化问题上,并且电路老化集中表现为电气线路的老化。本文选取服役时间较长,老龄化问题较为突出的通航飞机,展示具体的老龄化问题实例。提出了通航飞... 随着通航飞机的使用年限增长,老龄化问题也日益凸显。通航飞机的老龄化主要体现在电路老化问题上,并且电路老化集中表现为电气线路的老化。本文选取服役时间较长,老龄化问题较为突出的通航飞机,展示具体的老龄化问题实例。提出了通航飞机电路老化的检测方法,具体方法包括:目视检测、量具检测、电路及电子部件检测、使用线路故障测试定位仪检测。根据检测方法的理论方法,进行了验证性实验,实验结果表明本文提出的检测方法具有可行性。 展开更多

关键词 通航飞机 电路老化 检测方法

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浅析导致农村火灾的危险因素及防控措施

19

作者 吴昆 《中国减灾》 2024年第22期58-59,共2页

由于电路老化和用电不规范、消防安全意识薄弱、消防设施配置不足、消防交通不畅等问题,农村火灾防控存在一定的安全隐患。本文从定制电气线路定期巡查计划、加强农村消防安全知识宣讲、加强农村火源管理、定期开展农村消防安全巡查等... 由于电路老化和用电不规范、消防安全意识薄弱、消防设施配置不足、消防交通不畅等问题,农村火灾防控存在一定的安全隐患。本文从定制电气线路定期巡查计划、加强农村消防安全知识宣讲、加强农村火源管理、定期开展农村消防安全巡查等方面提出加强农村地区火灾事故防控能力的对策建议。 展开更多

关键词 消防安全意识 防控措施 火源管理 农村火灾 火灾防控 电气线路 火灾事故 电路老化

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电类实验室安全问题探究

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作者 王常策 阎群 《教育教学论坛》 2017年第42期255-256,共2页

实验室的安全威胁有多方面,如触电、火灾等;设备老化是实验室的隐性威胁;在加强管理制度建设的同时,更要关注设备老化问题。建议制定国家淘汰老旧实验教学设备的标准,以及实验教学设备制造、选件规范标准,从源头上保障实验室安全。

关键词 实验室安全 电路老化 强制淘汰

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