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玻璃表面处理综述 被引量:8
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作者 王琦 万法琦 +3 位作者 赵会峰 熊春荣 文峰 姜宏 《材料科学与工程学报》 CAS CSCD 北大核心 2021年第6期1047-1055,1060,共10页
本文归纳了近年实验室研究与工业生产中玻璃表面常用的处理方法主要包括化学刻蚀、物理刻蚀、表面镀膜等的研究进展,梳理了不同种类玻璃表面处理工艺的优劣,介绍了表征玻璃表面结构、化学组成及电子态的常用分析方法。在未来的玻璃表面... 本文归纳了近年实验室研究与工业生产中玻璃表面常用的处理方法主要包括化学刻蚀、物理刻蚀、表面镀膜等的研究进展,梳理了不同种类玻璃表面处理工艺的优劣,介绍了表征玻璃表面结构、化学组成及电子态的常用分析方法。在未来的玻璃表面处理研究中,除改进现有的表面处理工艺外,还需开发新的表面处理技术。此外,微观上需重视表面化学组成与结构对玻璃性能的影响。 展开更多
关键词 表面处理 化学刻蚀 物理刻蚀 表面镀膜
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ICP设备光刻胶灰化工艺中膜层残留的改善
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作者 查甫德 徐纯洁 +8 位作者 李根范 张木 崔立加 冯耀耀 朱梅花 杨增乾 刘增利 陈正伟 郑载润 《液晶与显示》 CAS CSCD 北大核心 2020年第12期1264-1269,共6页
为改善TFT特性,采用感应耦合等离子体(ICP)设备进行4-Mask光刻胶(PR)灰化工艺,光刻胶剥离后源/漏数据线边缘、TFT沟道和其他像素区出现了线性的a-Si膜层残留。本文研究了光刻胶灰化工艺条件对a-Si膜层残留的影响,结果表明压力、偏压射... 为改善TFT特性,采用感应耦合等离子体(ICP)设备进行4-Mask光刻胶(PR)灰化工艺,光刻胶剥离后源/漏数据线边缘、TFT沟道和其他像素区出现了线性的a-Si膜层残留。本文研究了光刻胶灰化工艺条件对a-Si膜层残留的影响,结果表明压力、偏压射频功率是产生膜层残留的主要因素,O2用量为次要因素。通过光刻胶灰化工艺优化得出了改善膜层残留的条件压力≥2.66 Pa,源极功率∶偏压功率≥3∶1,qv(SF6)∶qv(O2)≥1∶60,对感应耦合等离子体设备在光刻胶灰化工艺中的进一步应用具有非常重要的意义。 展开更多
关键词 感应耦合等离子体 灰化 膜层残留 物理刻蚀 氧化
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