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新型片式铌电容器老化方法的研究
1
作者
李春光
高勇
+1 位作者
安涛
董宁利
《西安理工大学学报》
CAS
2004年第3期223-228,共6页
根据铌电容器的失效状态,针对片式铌电容器后期筛选工艺进行研究,在通用的静态老化方法基础上引入了一种动态老化方法,并通过实验确定了这两种老化方法合理的老化工艺参数。采用静态老化与动态老化相结合的老化方法,可以进一步提高片式...
根据铌电容器的失效状态,针对片式铌电容器后期筛选工艺进行研究,在通用的静态老化方法基础上引入了一种动态老化方法,并通过实验确定了这两种老化方法合理的老化工艺参数。采用静态老化与动态老化相结合的老化方法,可以进一步提高片式铌电容器产品的可靠性,满足工业化应用的要求。
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关键词
片式铌电容器
可靠性
老化方法
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职称材料
题名
新型片式铌电容器老化方法的研究
1
作者
李春光
高勇
安涛
董宁利
机构
西安理工大学自动化与信息工程学院
宁夏星日电子公司
出处
《西安理工大学学报》
CAS
2004年第3期223-228,共6页
基金
国家863计划资助项目(2002AA325120)
国际科技合作重点资助项目(2003DF000026)。
文摘
根据铌电容器的失效状态,针对片式铌电容器后期筛选工艺进行研究,在通用的静态老化方法基础上引入了一种动态老化方法,并通过实验确定了这两种老化方法合理的老化工艺参数。采用静态老化与动态老化相结合的老化方法,可以进一步提高片式铌电容器产品的可靠性,满足工业化应用的要求。
关键词
片式铌电容器
可靠性
老化方法
Keywords
niobium chip capacitor
reliability
aging method
分类号
TQ135.12 [化学工程—无机化工]
TQ150.41 [化学工程—电化学工业]
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作者
出处
发文年
被引量
操作
1
新型片式铌电容器老化方法的研究
李春光
高勇
安涛
董宁利
《西安理工大学学报》
CAS
2004
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