O484.5 2004064370 10.6μm激光辐照下光学薄膜的微弱吸收测量=Measurement of weak absorption of thin film coatings irradiated by 10.6μm laser[刊,中]/杨富（四川大学电子信息学院.四川,成都（610064））,黄伟…∥强激光与粒子束...O484.5 2004064370 10.6μm激光辐照下光学薄膜的微弱吸收测量=Measurement of weak absorption of thin film coatings irradiated by 10.6μm laser[刊,中]/杨富（四川大学电子信息学院.四川,成都（610064））,黄伟…∥强激光与粒子束.—2004,16（3）.—277-280 建立了表面热透镜技术测量光学薄膜微弱吸收的实验装置,对10.6μmCO<sub>2</sub>激光辐照下镀制在Ge基底上的不同厚度的单层ZnS,YbF<sub>3</sub>薄膜。以及镀制在Ge基底上不同膜系的（YbF<sub>3</sub>/ZnSe）多层分光膜的弱吸收进行了测量,并对实验结果作了分析和讨论。实验结果表明,利用本实验系统已测得的待测样品的最低吸收为2.87×10<sup>-4</sup>,测量系统的灵敏度为10<sup>-5</sup>。图3表2参6（于晓光）展开更多
文摘O484.5 2004064370 10.6μm激光辐照下光学薄膜的微弱吸收测量=Measurement of weak absorption of thin film coatings irradiated by 10.6μm laser[刊,中]/杨富（四川大学电子信息学院.四川,成都（610064））,黄伟…∥强激光与粒子束.—2004,16（3）.—277-280 建立了表面热透镜技术测量光学薄膜微弱吸收的实验装置,对10.6μmCO<sub>2</sub>激光辐照下镀制在Ge基底上的不同厚度的单层ZnS,YbF<sub>3</sub>薄膜。以及镀制在Ge基底上不同膜系的（YbF<sub>3</sub>/ZnSe）多层分光膜的弱吸收进行了测量,并对实验结果作了分析和讨论。实验结果表明,利用本实验系统已测得的待测样品的最低吸收为2.87×10<sup>-4</sup>,测量系统的灵敏度为10<sup>-5</sup>。图3表2参6（于晓光）
