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利用局域取向差衡量变形金属中的位错密度 被引量:22
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作者 孟杨 任群 鞠新华 《材料热处理学报》 EI CAS CSCD 北大核心 2014年第11期122-128,共7页
利用局域取向差衡量变形金属中的位错密度,对不同变形程度的退火铁素体钢样品做电子背散射衍射(EBSD)面扫描,取得取向数据进行局域取向差分析。结果表明,在相同的测量和计算条件下,局域取向差可以表征出塑性变形的金属中位错墙和显微带... 利用局域取向差衡量变形金属中的位错密度,对不同变形程度的退火铁素体钢样品做电子背散射衍射(EBSD)面扫描,取得取向数据进行局域取向差分析。结果表明,在相同的测量和计算条件下,局域取向差可以表征出塑性变形的金属中位错墙和显微带等亚结构。局域取向差还可以用来比较不同样品的位错密度平均水平,特别是能够区分状态接近的微区中位错密度的相对大小。利用局域取向差分析证实了具有相同成分的铁素体+马氏体(F-M)双相钢与铁素体+珠光体(F-P)钢中,前者铁素体的位错密度高于后者。局域取向差分布图表明在冷轧板中部组织中,位错墙集中分布于晶界附近;而在边部组织中,位错墙则是分散分布并相互缠结。边部组织中的位错密度显著高于中部组织,是导致局部塑性差容易开裂的一个原因。 展开更多
关键词 局域取向差 EBSD 变形组织 位错密度 Kuwahara平滑处理
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Z2CND18.12N奥氏体不锈钢低周疲劳损伤的EBSD分析
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作者 车枫 孟亦圆 +1 位作者 林莉 罗忠兵 《材料工程》 EI CAS CSCD 北大核心 2024年第6期177-183,共7页
针对核电管道用Z2CND18.12N奥氏体不锈钢的低周疲劳损伤,研究电子背散射衍射(electron backscattered diffraction,EBSD)采集与后处理参数对局域取向差(local misorientation,ML)的影响,基于优选参数探讨特征取向晶粒的损伤规律。结果表... 针对核电管道用Z2CND18.12N奥氏体不锈钢的低周疲劳损伤,研究电子背散射衍射(electron backscattered diffraction,EBSD)采集与后处理参数对局域取向差(local misorientation,ML)的影响,基于优选参数探讨特征取向晶粒的损伤规律。结果表明:测试步长、取向差平均范围(filter)及像素合并参数(binning)均影响ML测试结果,综合考虑晶粒尺寸、测试精度和效率等因素,优选确定binning 2×2,filter 11×11,测试步长为2μm或5μm。选取损伤程度不同的两个区域,〈111〉取向晶粒ΔM_(L)的峰值和平均值变化均高于〈101〉和〈001〉取向,〈101〉取向ΔM_(L)数值最小;同时,ML在小晶粒特别是晶界及交汇处数值较大。结合晶粒尺寸、晶界对变形分布的不均匀性进行了讨论。结果证实ML可以有效评价Z2CND18.12N钢的变形损伤,为发展基于多物理参量的材料以及结构损伤评价技术提供了参考和借鉴。 展开更多
关键词 奥氏体不锈钢 疲劳 电子背散射衍射 晶体取向 局域取向差
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In situ analysis of multi-twin morphology and growth using synchrotron polychromatic X-ray microdiffraction
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作者 李理 《Transactions of Nonferrous Metals Society of China》 SCIE EI CAS CSCD 2015年第7期2156-2164,共9页
Synchrotron polychromatic X-ray microdiffraction(micro-XRD) was applied to study in situ deformation twinning of commercially AZ31(Mg-3Al-1Zn) strip subjected to uniaxial tension.The morphology and growth of twins... Synchrotron polychromatic X-ray microdiffraction(micro-XRD) was applied to study in situ deformation twinning of commercially AZ31(Mg-3Al-1Zn) strip subjected to uniaxial tension.The morphology and growth of twins were analyzed in situ under the load level from 64 to 73 MPa.The X-ray microdiffraction data,collected on beamline 12.3.2 at the Advanced Light Source,were then used to map an area of 396μm x 200μm within the region of interest.The experimental set-up and X-ray diffraction microscopy with a depth resolution allow the position and orientation of each illuminated grain to be determined at the submicron size.A list of parent grains sorted by crystallographic orientation were selected to examine their twinning behavior.The results depict twin variant selection,local misorientation fluctuation and mosaic spread for multi-twins within the same parent grain.As load increases,the amplitude of misorientation fluctuation along twin trace keeps increasing.This is attributable to the accumulation of geometrically necessary dislocations. 展开更多
关键词 synchrotron polychromatic X-ray deformation twinning in situ analysis local misorientation geometrically necessary dislocations
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