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偏振调制扫描光学显微镜方法
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作者 张洋 张志豪 +3 位作者 王宇剑 薛晓兰 陈令修 石礼伟 《物理学报》 SCIE EI CAS CSCD 北大核心 2024年第15期187-195,共9页
基于反射差分谱原理搭建了适用于二维材料和微纳器件的偏振调制扫描光学显微镜系统,可以实现对于材料或者器件的微米级区域进行反射差分显微成像的研究.通过研究两种典型的二维层状材料MoS_(2)和ReSe_(2)的反射差分显微成像,发现相比于... 基于反射差分谱原理搭建了适用于二维材料和微纳器件的偏振调制扫描光学显微镜系统,可以实现对于材料或者器件的微米级区域进行反射差分显微成像的研究.通过研究两种典型的二维层状材料MoS_(2)和ReSe_(2)的反射差分显微成像,发现相比于传统的反射显微镜,我们搭建的偏振调制扫描光学显微镜对于二维材料的层数特征更敏感,且可以用来表征二维材料的平面光学各向异性.相关研究有助于更进一步理解层状二维材料的层数特征和各向异性性质. 展开更多
关键词 反射各向异性光谱 显微成像 光学各向异性 二维材料
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