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全帧CCD探测器CT扫描数据读出与拖影校正研究 被引量:1
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作者 安康 吴石琳 +4 位作者 杜宇 段晓礁 李汶芳 周日峰 王珏 《原子能科学技术》 EI CAS CSCD 北大核心 2022年第10期2203-2213,共11页
以光纤耦合全帧CCD方式制作的X射线探测器在实验室高精度X射线CT扫描中广泛应用。由于X射线的强穿透特性,全帧CCD探测器通常工作在无快门模式,图像拖影是该模式下必定存在的伪影。本文针对全帧CCD探测器CT扫描图像拖影校正进行研究,提... 以光纤耦合全帧CCD方式制作的X射线探测器在实验室高精度X射线CT扫描中广泛应用。由于X射线的强穿透特性,全帧CCD探测器通常工作在无快门模式,图像拖影是该模式下必定存在的伪影。本文针对全帧CCD探测器CT扫描图像拖影校正进行研究,提出了非曝光行校正法校正投影图像拖影,避免了利用暗像元校正法校正投影图像拖影时可能会带来的条形伪影;针对动态曝光CT扫描,设计了基于辐射屏蔽的投影图像感兴趣区域快速读出模式,通过降低电荷转移时间有效抑制投影图像拖影的产生,提高探测器有效信号动态范围。实验结果表明:应用非曝光行校正法能有效校正投影图像拖影、提高投影图像质量;采用投影图像感兴趣区域快速读出模式可有效解决动态曝光CT扫描图像拖影校正难题。 展开更多
关键词 全帧ccd 非曝光行 感兴趣区域 行转移拖影 等待读出拖影
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全帧CCD相机时间延迟积分模式下的图像缺损 被引量:6
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作者 冷雪 张雪菲 +2 位作者 李文明 孙翠羽 陈浠惠 《光学精密工程》 EI CAS CSCD 北大核心 2014年第2期467-473,共7页
长焦距面阵CCD相机以TDI模式进行动态横向多幅扫描成像时,行转移频率高或者曝光时间长会使图像输出有明显缺损,从而影响图像的判读。为解决这一问题,分析了全帧CCD相机TDI模式的工作原理,分析认为快门曝光过程中CCD存在的无效TDI转移是... 长焦距面阵CCD相机以TDI模式进行动态横向多幅扫描成像时,行转移频率高或者曝光时间长会使图像输出有明显缺损,从而影响图像的判读。为解决这一问题,分析了全帧CCD相机TDI模式的工作原理,分析认为快门曝光过程中CCD存在的无效TDI转移是导致输出图像出现缺损的主要原因。通过实验验证了分析结果,并提出保证CCD曝光过程中TDI转移与机械快门曝光精确同步的方法来消除无效TDI转移。据此设计了光电同步定位法进行曝光控制,并研制了相应的快门光电同步装置。成像实验结果显示,该方法可将图像缺陷区域控制在15列像元内,解决了面阵CCD在TDI模式下输出图像的缺损问题,提高了图像判读精度。 展开更多
关键词 ccd相机 全帧转移ccd 面阵TDI级数 行转移频率 图像缺损
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基于FPGA的高分辨率全帧CCD驱动电路设计
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作者 元华明 刘波 曹剑中 《弹箭与制导学报》 CSCD 北大核心 2006年第S9期1068-1070,共3页
针对1100万像素(4008×2672)全帧CCD芯片FTF4027M的驱动时序要求,介绍了基于现场可编程门阵列(FPGA)来设计产生该芯片的复杂驱动时序以及其它控制逻辑时序的方法。给出了FPGA实现电路组成和逻辑仿真波形,通过对电路的输出波形的测... 针对1100万像素(4008×2672)全帧CCD芯片FTF4027M的驱动时序要求,介绍了基于现场可编程门阵列(FPGA)来设计产生该芯片的复杂驱动时序以及其它控制逻辑时序的方法。给出了FPGA实现电路组成和逻辑仿真波形,通过对电路的输出波形的测试结果表明,该方法是可行的。 展开更多
关键词 全帧ccd 时序脉冲产生器 现场可编程门阵列 相关双采样 驱动电路
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4096×4096元全帧转移CCD的设计和研制
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作者 王颖 权利 +1 位作者 张坤 周建勇 《半导体光电》 CAS CSCD 北大核心 2011年第6期762-764,共3页
重点讨论了像元尺寸为11μm×11μm的4096×4096元可见光CCD全帧转移结构和技术性能参数的设计,采用CCD埋沟工艺和辐射加固技术,研制出了高性能4096×4096元可见光CCD。结果表明器件动态范围达到75dB,读出噪声电子数为30,... 重点讨论了像元尺寸为11μm×11μm的4096×4096元可见光CCD全帧转移结构和技术性能参数的设计,采用CCD埋沟工艺和辐射加固技术,研制出了高性能4096×4096元可见光CCD。结果表明器件动态范围达到75dB,读出噪声电子数为30,暗电流产生率为2mV/s,响应非均匀性为2%,非线性为0.4%,且具有抗γ射线辐射能力。 展开更多
关键词 全帧转移ccd设计与研制 测试结果
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