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数字IC边界扫描互连故障诊断新方法
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作者 周晓霞 倪军 +2 位作者 成立 植万江 王振宇 《半导体技术》 CAS CSCD 北大核心 2008年第12期1100-1104,共5页
介绍了支持JTAG标准的数字集成电路(IC)芯片结构、故障测试模式和运用边界扫描故障测试的原理。实验中分析了数字IC互连故障类型、一般故障诊断流程和互连故障的测试方法,提出了采用无误判抗混淆算法的IC边界扫描互连故障诊断法。通过两... 介绍了支持JTAG标准的数字集成电路(IC)芯片结构、故障测试模式和运用边界扫描故障测试的原理。实验中分析了数字IC互连故障类型、一般故障诊断流程和互连故障的测试方法,提出了采用无误判抗混淆算法的IC边界扫描互连故障诊断法。通过两块Xilinx 9572 pc84芯片互连电路板进行了实验验证,结果表明,该方法对板级互连故障测试具有定位准确、检测效率高、可靠性高及易于实现的技术优势。 展开更多
关键词 JTAG标准 边界扫描结构 互连故障诊断 无误判抗混淆算法
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