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双面压接背板可靠性研究
被引量:
3
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作者
任尧儒
王小平
《印制电路信息》
2018年第4期35-44,共10页
在数据交换量日益膨胀的4G/5G通讯时代,双面压接高速背板方案能够很好的实现这种功能。双面压接背板在电镀过程中存在机械盲孔无铜、表面基材污染和孔壁耐热环境微裂纹等影响可靠性和表观的缺陷,因此经过机理分析和实验验证,通过工艺改...
在数据交换量日益膨胀的4G/5G通讯时代,双面压接高速背板方案能够很好的实现这种功能。双面压接背板在电镀过程中存在机械盲孔无铜、表面基材污染和孔壁耐热环境微裂纹等影响可靠性和表观的缺陷,因此经过机理分析和实验验证,通过工艺改良实现产品电气连接和可靠性提升,并保证批量可靠稳定制作。
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关键词
双面压接
背板
孔内无铜
板面污染
孔壁冲击裂纹
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职称材料
题名
双面压接背板可靠性研究
被引量:
3
1
作者
任尧儒
王小平
机构
生益电子股份有限公司
出处
《印制电路信息》
2018年第4期35-44,共10页
文摘
在数据交换量日益膨胀的4G/5G通讯时代,双面压接高速背板方案能够很好的实现这种功能。双面压接背板在电镀过程中存在机械盲孔无铜、表面基材污染和孔壁耐热环境微裂纹等影响可靠性和表观的缺陷,因此经过机理分析和实验验证,通过工艺改良实现产品电气连接和可靠性提升,并保证批量可靠稳定制作。
关键词
双面压接
背板
孔内无铜
板面污染
孔壁冲击裂纹
Keywords
Dual-side Press Fit
backpanel
Expose Base Material in Plated Hole
Surfacecontamination
Hole Copper Thermal Shock Crack
分类号
TN41 [电子电信—微电子学与固体电子学]
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职称材料
题名
作者
出处
发文年
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1
双面压接背板可靠性研究
任尧儒
王小平
《印制电路信息》
2018
3
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