中国古代陶瓷的X射线荧光非破坏分析 被引量：5

1

作者 陶光仪 《中国搪瓷》 1991年第5期58-62,共5页

本文提出了一个用于分析中国古陶瓷胎和釉中十个主、次量组分的非破坏X-射线荧光光谱方法。该方法最重要之特点是试样仅作短时间的X光照射,因此无论如何不会损坏样品。这一点对贵重的中国古陶瓷来说,尤为重要。

关键词 中国古陶瓷 中国古代陶瓷 非破坏分析 分析结果 熔融片法 射线 试样 荧光光谱 组分 光照射

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计算多层膜组分和厚度的软件FPMULTI及其应用 被引量：8

2

作者 陶光仪 吉昂 卓尚军 《光谱学与光谱分析》 SCIE EI CAS CSCD 北大核心 1999年第2期215-218,共4页

本文简述了可用于多层镀层和多层薄膜成分和厚度同时分析的计算机软件ＦＰＭＵＬＴＩ的主要特点。这个基于基本参数法的计算机软件可以分析多至１０层，最多含２５个元素的各类试样。所需的校正标样可以是纯元素或多元素的薄膜标样，亦... 本文简述了可用于多层镀层和多层薄膜成分和厚度同时分析的计算机软件ＦＰＭＵＬＴＩ的主要特点。这个基于基本参数法的计算机软件可以分析多至１０层，最多含２５个元素的各类试样。所需的校正标样可以是纯元素或多元素的薄膜标样，亦可以是纯元素或多元素的块样。本文的研究表明，用ＦＰＭＵＬＴＩ的分析结果明显优于检量线法，体现了基本参数法的优点。 展开更多

关键词 X射线荧光光谱 多层膜 软件 薄膜 镀层

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X射线荧光光谱中影响理论计算相对强度的主要因素 被引量：8

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作者 陶光仪 卓尚军 吉昂 《化学学报》 SCIE CAS CSCD 北大核心 1998年第9期873-879,共7页

提高理论相对强度计算准确度对X射线荧光定量分析及基体效应的数学校正至关重要.本文对X射线荧光光谱中影响理论计算相对强度的几种主要因素进行了探讨.考察了谱仪几何因子的不准确性对理论相对强度的影响,用三种不同来源的X光管原级谱... 提高理论相对强度计算准确度对X射线荧光定量分析及基体效应的数学校正至关重要.本文对X射线荧光光谱中影响理论计算相对强度的几种主要因素进行了探讨.考察了谱仪几何因子的不准确性对理论相对强度的影响,用三种不同来源的X光管原级谱强度分布计算和比较了一系列谱线的相对强度,通过详细考察发现不同作者发表的质量吸收系数之间及其与实测值之间在三个区域存在显著差异,并比较了用四种常用质量吸收系数算法计算的一系列谱线的相对强度,根据不同作者的激发因子算法编制了相应的计算机程序,对Ka,La和Ma的激发因子考察了它们之间的差异. 展开更多

关键词 X射线荧光光谱 理论计算强度 质量吸收系数

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提高X射线荧光理论计算相对强度准确度的研究 被引量：4

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作者 陶光仪 卓尚军 吉昂 《分析化学》 SCIE EI CAS CSCD 北大核心 1998年第11期1350-1354,共5页

通过与合成标样实测相对强度的比较，研究了影响ＸＲＦ中理论计算相对强度准确度的主要因素，提出了μ＋τ计算模式和一个混合的质量吸收系数（ＭＡＣ）算法。

关键词 相对强度 X射线荧光光谱 质量吸收系数 计算

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熔铸锆刚玉耐火材料的X射线荧光光谱分析 被引量：9

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作者 陶光仪 张中义 吉昂 《光谱学与光谱分析》 SCIE EI CAS CSCD 北大核心 1994年第6期113-116,共4页

本文提出了一个用Ｘ射线荧光光谱法分析熔铸ＡＺＳ耐火材料中十个主、次量组分的全分析方法。样品用熔融法制备，用理论影响系数法校正元素间的吸收－增强效应。

关键词 X射线荧光光谱 AZS耐火材料

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X射线荧光光谱分析 被引量：17

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作者 陶光仪 《分析试验室》 CAS CSCD 北大核心 1995年第3期92-100,共9页

本文是“分析试验室”定期评述中“Ｘ射线荧光光谱分析”学科的第五篇评述。它收集了国内学者１９９２年７月到１９９４年６月期间发表在国内外刊物上的１７１篇文章。并对此期间我国Ｘ射线荧光光谱分析的概况和发展进行评述。内容包括... 本文是“分析试验室”定期评述中“Ｘ射线荧光光谱分析”学科的第五篇评述。它收集了国内学者１９９２年７月到１９９４年６月期间发表在国内外刊物上的１７１篇文章。并对此期间我国Ｘ射线荧光光谱分析的概况和发展进行评述。内容包括ＸＲＦ仪器，同步辐射ＸＲＦ全反射ＸＲＦ，粒子激发Ｘ射线发射光谱，定量分析方法，制样技术，以及在各个科学和工业领域中的应用。 展开更多

关键词 X线荧光分析 同步辐射 离子激发 评述

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第21届Durham X射线分析会议简介 被引量：2

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作者 陶光仪 吉昂 《分析试验室》 CAS CSCD 2000年第4期97-99,共3页

关键词 第21届 DurhamX射线分析会议 XRF XRD

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定量X-射线荧光光谱分析中用于计算理论α系数的计算机程序DRALPHA 被引量：11

8

作者 陶光仪 Norrish K. Fazey P. 《分析化学》 SCIE EI CAS CSCD 北大核心 1992年第1期94-96,共3页

在修改后的基本参数法程序NRLXRF基础上本文所研制的计算机程序DRALPHA可用于计算Lachance-Traill或Claisse-Quintin方程中的理论α系数以校正X-射线荧光定量分析中元素间的吸收-增强效应。

关键词 X射线荧光法 计算机 程序

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X射线荧光光谱分析中计算机软件的新进展 被引量：9

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作者 陶光仪 《冶金分析》 CAS CSCD 北大核心 1994年第2期31-34,共4页

本文对Ｘ射线荧光光谱测定中的定性、半定量和定量分析用的计算机软件近年来的新进展进行了简要的评述，并列出参考文献３９篇。

关键词 软件 XRF分析

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PW1400、PW1404、PW1600和PW1606 X射线荧光光谱仪数据文件的读写软件

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作者 陶光仪 裴立文 吉昂 《光谱学与光谱分析》 SCIE EI CAS CSCD 北大核心 1992年第3期121-124,共4页

本文研制了为PW1400、PW1404、PW1600和PW1606谱仪建立的数据文件进行读写的专用软件。作为应用的例子,一是读取PW 1400谱仪测量后所建立的未知样文件,然后作均匀性检验;另一是读取PW 1404谱仪测量后所建立的标样浓度,强度及未知样强度... 本文研制了为PW1400、PW1404、PW1600和PW1606谱仪建立的数据文件进行读写的专用软件。作为应用的例子,一是读取PW 1400谱仪测量后所建立的未知样文件,然后作均匀性检验;另一是读取PW 1404谱仪测量后所建立的标样浓度,强度及未知样强度文件中的某些数据、然后重新写一个数据文件,用NBSGSC程序进行元素间相互影响的数学校正。该软件用FORTRAN语言编写,可在操作系统为RSX 11M的DEC PDP 11/23小型计算机上使用。 展开更多

关键词 计算机软件 XRF光谱仪

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微波消解电感耦合等离子体光谱法测定碳化硼中痕量杂质元素 被引量：11

11

作者 汪正 邱德仁 +2 位作者 邹慧君 陶光仪 杨芃原 《分析化学》 SCIE EI CAS CSCD 北大核心 2006年第12期1818-1818,共1页

关键词 ICP-AES测定 电感耦合等离子体光谱法 痕量杂质元素 微波消解 碳化硼 电感耦合等离子体原子发射光谱法 样品处理 微波高压消解

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悬浮液进样端视电感耦合等离子体发射光谱法直接测定二氧化钛中铌 被引量：8

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作者 汪正 陈天裕 +1 位作者 陶光仪 杨芃原 《光谱学与光谱分析》 SCIE EI CAS CSCD 北大核心 2005年第4期556-559,共4页

用聚丙烯酸胺(NH4PAA)为分散剂制备二氧化钛悬浮液,并以悬浮液进样端视电感耦合等离子体发射光谱法直接测定了二氧化钛中痕量杂质铌。研究了分散剂及分散剂的量和pH对二氧化钛悬浮液稳定性的影响,通过优化条件制备得到稳定和均匀的悬浮... 用聚丙烯酸胺(NH4PAA)为分散剂制备二氧化钛悬浮液,并以悬浮液进样端视电感耦合等离子体发射光谱法直接测定了二氧化钛中痕量杂质铌。研究了分散剂及分散剂的量和pH对二氧化钛悬浮液稳定性的影响,通过优化条件制备得到稳定和均匀的悬浮液。研究了端视电感耦合等离子体发射光谱分析悬浮液进样的性能。本方法的检出限为3 0 μg·L-1,相对标准偏差为3 1% (n =3,c=0 . 3mg·L-1)。 展开更多

关键词 电感耦合等离子体发射光谱法 悬浮液进样 二氧化钛 直接测定 发射光谱分析 相对标准偏差 铌 聚丙烯酸胺 分散剂 痕量杂质 优化条件 稳定性 检出限 制备

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X射线荧光光谱分析中的粉末压片制样法 被引量：75

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作者 刘尚华 陶光仪 吉昂 《光谱实验室》 CAS CSCD 1998年第6期9-15,共7页

本文是一篇关于ＸＲＦ光谱分析中粉末压片制样法的综述。根据７０多篇文献和一些常见的资料，作者从样品制备、方法应用、理论校正等三个方面介绍了粉末压片制样法的现状和进展。

关键词 制样 粉末压片 综述 X射线荧光光谱分析

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X射线荧光光谱在晶体材料组成分析中的应用 被引量：5

14

作者 卓尚军 陶光仪 +2 位作者 吉昂 盛成 申如香 《无机材料学报》 SCIE EI CAS CSCD 北大核心 2003年第1期19-26,共8页

介绍了X射线荧光光谱在人工晶体材料组成分析中的应用.虽然x射线荧光光谱分析是一种非常有效的元素分析手段,但必须针对不同的样品和分析要求采用合适的样品制备方法,选择或配制合适的校正标样对基体效应进行校正.在样品为单晶时异常反... 介绍了X射线荧光光谱在人工晶体材料组成分析中的应用.虽然x射线荧光光谱分析是一种非常有效的元素分析手段,但必须针对不同的样品和分析要求采用合适的样品制备方法,选择或配制合适的校正标样对基体效应进行校正.在样品为单晶时异常反射对光谱的定性解释和定量分析的条件选择可能产生影响,此时最好使用熔融制样法.使用测量结果时,应该充分考虑其不确定度. 展开更多

关键词 晶体材料 组成分析 X射线荧光光谱 定量分析 测量不确定度 元素分析

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SZ-1型同位素X射线荧光分析仪分析多金属结核中锰铁钴镍铜 被引量：14

15

作者 张学华 吉昂 +1 位作者 卓尚军 陶光仪 《岩矿测试》 CAS CSCD 北大核心 1999年第2期124-127,130,共5页

采用低分辨率能量色散Ｘ射线荧光分析仪和偏最小二乘法对太平洋多金属结核中的Ｍｎ、Ｆｅ、Ｃｏ、Ｎｉ和Ｃｕ等元素进行了现场分析，并对所用仪器的性能和方法的可靠性作了评价。方法经国家级标准物质验证，其测定值与标准值相符，ＲＳ... 采用低分辨率能量色散Ｘ射线荧光分析仪和偏最小二乘法对太平洋多金属结核中的Ｍｎ、Ｆｅ、Ｃｏ、Ｎｉ和Ｃｕ等元素进行了现场分析，并对所用仪器的性能和方法的可靠性作了评价。方法经国家级标准物质验证，其测定值与标准值相符，ＲＳＤ（ｎ＝４２）各元素均小于１．０％，分析结果满足现场分析中矿物品位的测定要求。 展开更多

关键词 X射线荧光光谱仪 多金属结核 品位分析

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X射线荧光光谱法测定萤石中的氟、钙及二氧化硅 被引量：20

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作者 陆晓明 吉昂 陶光仪 《分析化学》 SCIE EI CAS CSCD 北大核心 1997年第2期178-180,共3页

提出用偏硼酸锂和四硼酸锂混合熔剂熔融制样，以X-射线荧光光谱法定量测定萤石中CaF2、总钙和二氧化硅。经实际试样和标准试样检测，本法可用于实际试样分析，在CaF2含量为77％～98％时，其最大误差为0．60％。

关键词 氟 萤石 X射线荧光光谱

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普通 X-射线荧光光谱仪在化学态分析中的应用 被引量：7

17

作者 吉昂 吴梅梅 +1 位作者 石琼 陶光仪 《分析化学》 SCIE EI CAS CSCD 北大核心 1991年第9期1002-1006,共5页

本文测定了PW1404 X-射线荧光光谱仪谱分辨率,比较了普通和高分辨率双晶X-射线荧光光谱仪测定某些典型试样中Si、Al和Cu的化学位移值,并用标准样品验证普通谱仪定量测定铝配位数丰度的精度和准确度,将普通谱仪测得的Si-O键键性与红外、... 本文测定了PW1404 X-射线荧光光谱仪谱分辨率,比较了普通和高分辨率双晶X-射线荧光光谱仪测定某些典型试样中Si、Al和Cu的化学位移值,并用标准样品验证普通谱仪定量测定铝配位数丰度的精度和准确度,将普通谱仪测得的Si-O键键性与红外、拉曼光谱结果作了比较。在此基础上论述了普通谱仪在化学态分析中应占有一定的地位。 展开更多

关键词 X-射线 荧光光谱 光谱仪 化学态

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理论α系数在X射线荧光光谱分析化探样品主量元素中的应用 被引量：9

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作者 吉昂 陶光仪 +4 位作者 汪玉琴 王慧娟 裴立文 刘恩美 张仕定 《光谱学与光谱分析》 SCIE EI CAS CSCD 北大核心 1989年第6期40-44,共5页

X射线荧光光谱分析是一种快速、准确而又经济的方法,已成功地用于地质化探样品中主、痕量元素的分析,但基本上均用经验系数法校正元素间吸收-增强效应,国内一般用50只左右的标准样品,Guerara等,用粉末压片法测定地质样品中主量元素,采... X射线荧光光谱分析是一种快速、准确而又经济的方法,已成功地用于地质化探样品中主、痕量元素的分析,但基本上均用经验系数法校正元素间吸收-增强效应,国内一般用50只左右的标准样品,Guerara等,用粉末压片法测定地质样品中主量元素,采用美国、西德、日本等国的标准样品。 展开更多

关键词 理论α系数 X射线 荧光光谱分析

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含硫化合物的SK_αX射线荧光光谱的研究 被引量：4

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作者 刘红超 吉昂 +2 位作者 陶光仪 马光祖 王庆广 《化学学报》 SCIE CAS CSCD 北大核心 1996年第9期912-916,共5页

在RIGAKU 3070X射线光谱仪(双晶)上系统测定了含硫化合物的SK_a谱;用统计试验最优化方法处理实验数据,得到了谱峰的峰位,非对称因子,半高宽度等信息;并计算了化学位移和部分化合物硫原子的净电荷.讨论了硫化合物SK_a谱化学位移的变化规... 在RIGAKU 3070X射线光谱仪(双晶)上系统测定了含硫化合物的SK_a谱;用统计试验最优化方法处理实验数据,得到了谱峰的峰位,非对称因子,半高宽度等信息;并计算了化学位移和部分化合物硫原子的净电荷.讨论了硫化合物SK_a谱化学位移的变化规律及原因.线性回归分析结果表明:硫化物SK_a谱的化学位移与价态,硫的含氧化合物SK_a谱的化学位移与O/S原子数比之间都有较好的线性关系;并给出了线性相关系数及线性方程. 展开更多

关键词 X射线荧光光谱 化学位移 线性回归 硫 化合物

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纳米粉末ZrO_2-CeO_2-La_2O_3的XRF分析研究 被引量：7

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作者 刘尚华 陶光仪 吉昂 《无机材料学报》 SCIE EI CAS CSCD 北大核心 1999年第6期1005-1010,共6页

本文用粉末压片法制样，XRF分析纳米粉ZrO2－CeO2－La2O3中主、次量元素，研究了纳米粉中颗粒度效应对荧光强度的影响．随着粉碎时间的延长和压力的增大，元素的荧光强度逐步上升；最后达到一个坪区．在相同的压片条件下分析不同温度下... 本文用粉末压片法制样，XRF分析纳米粉ZrO2－CeO2－La2O3中主、次量元素，研究了纳米粉中颗粒度效应对荧光强度的影响．随着粉碎时间的延长和压力的增大，元素的荧光强度逐步上升；最后达到一个坪区．在相同的压片条件下分析不同温度下煅烧的纳米粉，其荧光强度却没有明显的差别：因此认为，纳米粉的团聚效应是影响元素荧光强度的主要因素． 展开更多

关键词 荧光强度 粉末压片 纳米粉末 XRF 氧化物

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