-
题名表面处理技术在航天材料中的应用
被引量:10
- 1
-
-
作者
于凤梅
杨薛军
张科伟
李仙会
-
机构
驻上海航天局
上海材料研究所上海市工程材料应用与评价重点实验室
-
出处
《理化检验(物理分册)》
CAS
2018年第6期411-417,共7页
-
文摘
航天装备的服役环境严酷复杂,材料表面性能直接影响着航天装备是否能够在严酷复杂的环境中长期服役,材料表面处理技术是提高航天用材料表面性能的有力手段之一。对近年来航天工业用各种材料表面处理技术,包括阳极氧化、微弧氧化、电镀、热喷涂、气相沉积及其他一些表面处理技术等进行了概括性的介绍,对上述各种表面处理技术的研究热点以及在不同航天工业用材料上的应用研究现状及取得的最新进展进行了综述;并简要指出了航天工业用材料表面处理技术的发展方向。
-
关键词
表面处理技术
航天材料
研究进展
发展趋势
-
Keywords
surface treatment technology
aerospace material
research progress
development trend
-
分类号
TB304
[一般工业技术—材料科学与工程]
-
-
题名地空导弹装备易损性分析及毁伤评估仿真研究
被引量:1
- 2
-
-
作者
王宏
阳家宏
杨薛军
赵英俊
陈永革
-
机构
空军工程大学
上海航天局
-
出处
《现代防御技术》
北大核心
2016年第4期109-116,共8页
-
文摘
针对地空导弹装备易损性分析的难点及其毁伤评估研究的重要性,以装备功能组成为依据,建立其毁伤树模型,在分析杀伤战斗部毁伤机理并验证其科学性的基础上,结合装备几何模型、物理模型及功能模型设计开发了毁伤评估仿真系统。研究结果对地空导弹装备防护结构设计、提高其抗毁伤能力研究有一定的指导意义。
-
关键词
地空导弹
易损性
毁伤评估
毁伤树
仿真
杀伤战斗部
-
Keywords
ground to air missile
vulnerability
damage evaluation
damage tree
simulatioin
kill warhead
-
分类号
TJ762.13
[兵器科学与技术—武器系统与运用工程]
E927.21
[兵器科学与技术—武器系统与运用工程]
-
-
题名一种低剖面带状线结构的一体化阵列天线设计
被引量:3
- 3
-
-
作者
邵晓龙
杨薛军
李丽娴
林鑫
陈冬宇
-
机构
上海航天电子通讯设备研究所
驻上海航天局
-
出处
《无线电工程》
2017年第8期40-43,共4页
-
基金
上海航天技术研究院核攀基金资助项目(ZY2014-023)
-
文摘
基于阵列天线小型化的设计需求,设计了一种低剖面带状线结构的一体化阵列天线。天线采用带状线结构,利用两排均匀分布的金属化通孔充当带状线之间的金属隔离墙,并通过对双面印刷偶极子天线、馈电网络以及监测网络的一体化设计来实现的一款低剖面阵列天线。天线高度仅70 mm,满足在C波段18%的相对带宽内获得-28 dB的低副瓣性能。该一体化阵列天线具有结构紧凑、重量轻、可靠性强和监测功能等优点,便于和有源器件集成。同时,该天线满足实际使用要求,其设计思路和设计方法具有很好的可扩展性。
-
关键词
低剖面
带状线
双面印刷偶极子
一体化设计
-
Keywords
low-profile
stripline
double-faced printed dipole
integrative design
-
分类号
TN015
[电子电信—物理电子学]
-
-
题名真空辅助树脂扩散成型工艺在顶破式端盖上的应用
被引量:1
- 4
-
-
作者
柯贤朝
蔡玄龙
杨薛军
-
机构
上海材料研究所
空装驻上海地区第一军事代表室
-
出处
《理化检验(物理分册)》
CAS
2020年第8期19-22,共4页
-
文摘
研究了真空辅助树脂扩散成型工艺在顶破式端盖成型上的应用。采用有限元分析软件对端盖的正向承压能力和冲击力进行了仿真分析,并用3个成型端盖实物对模拟结果进行了试验验证。结果表明:端盖正向承压0.06 MPa而不受破坏,与仿真结果一致;端盖冲击力平均值为1135N,比仿真预测值低5.8%。
-
关键词
真空辅助树脂扩散成型工艺
顶破式端盖
有限元分析
-
Keywords
vacuum assisted resin infusion molding
brusting-type canister cover
finite element analysis
-
分类号
TB324
[一般工业技术—材料科学与工程]
-
-
题名某发射筒端盖密封失效分析
- 5
-
-
作者
柯贤朝
林彬
杨薛军
蔡玄龙
李小慧
-
机构
上海材料研究所上海市工程材料应用与评价重点实验室
空装驻上海地区第一军事代表室
-
出处
《理化检验(物理分册)》
CAS
2019年第10期730-732,共3页
-
文摘
某发射筒端盖在周转过程中出现密封失效,通过理化检验和失效模拟试验等方法,对该端盖密封失效的原因进行了分析。结果表明:端盖外表面在周转过程中受到机械外力作用产生了裂纹,裂纹不断扩展导致泄漏失效;将包装箱内缓冲材料厚度适当增加,使发射筒与缓冲材料的间隙小于1mm,可有效避免此类失效的发生。
-
关键词
发射筒端盖
裂纹
密封性
机械失效
-
Keywords
canister cover
crack
sealability
mechanical failure
-
分类号
TB233
[一般工业技术—工程设计测绘]
-