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喉上神经阻滞联合瑞芬太尼和右美托咪定在困难气道中的应用效果评价 被引量:9
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作者 罗伟 吴婕婷 +1 位作者 张子银 陈伟焘 《解放军预防医学杂志》 CAS 2019年第8期137-139,共3页
目的评价喉上神经阻滞联合瑞芬太尼和右美托咪定在困难气道患者中的临床应用效果。方法选择2017年1月-2018年12月期间,来本院就诊的80例困难气道患者为观察对象,将80例患者随机分为实验组和对照组。两组患者均采用超声引导下喉上神经阻... 目的评价喉上神经阻滞联合瑞芬太尼和右美托咪定在困难气道患者中的临床应用效果。方法选择2017年1月-2018年12月期间,来本院就诊的80例困难气道患者为观察对象,将80例患者随机分为实验组和对照组。两组患者均采用超声引导下喉上神经阻滞。药物上,实验组使用瑞芬太尼复合右美托咪定,对照组使用右美托咪定,后使用可视软性喉镜行气管插管术。对比两组患者入室后5分钟、插管即刻、插管后3分钟在心率、呼吸频率、血压、血氧分压以及呛咳、恶心、躁动等应激反应临床评价指标上的差异。结果入室后5min,两组患者在各项评价指标上不存在显著差异(P>0.05);插管时、插管后3min,实验组的心率、血压均小于对照组,存在显著差异(P<0.05),而两组呼吸频率、血氧饱和度在插管时对照入室后5min均有轻度降低,不存在显著差异(P>0.05),实验组呛咳、恶心、躁动等应激反应的发生率低于对照组,差异具有统计学意义(P<0.05)。结论喉上神经阻滞联合瑞芬太尼和右美托咪定应用于困难气道患者,可有效减少插管时的呛咳、恶心、躁动等不良反应,降低生命体征的波动,在保证患者的安全情况下增强对气管插管带来刺激的耐受性和舒适性。 展开更多
关键词 喉上神经阻滞 瑞芬太尼 右美托咪定 困难气道
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红楼·花语
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作者 吴婕婷 《福建基础教育研究》 2006年第Z2期97-97,共1页
关键词 林黛玉 女子 薰衣草 曹雪芹 贾宝玉 爱情 玫瑰 薛宝钗 伤害 故事
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为远方执着
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作者 吴婕婷 《福建基础教育研究》 2006年第9期46-46,共1页
关键词 无形 逃避现实 孤独 汪国真 七里香 战役 梦境 跨越 自尊 落差
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Ce掺杂ZnO压敏薄膜的微观结构与电学性能研究
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作者 何恺 吴文浩 +3 位作者 陈步华 吴婕婷 徐传孟 徐东 《功能材料》 EI CAS CSCD 北大核心 2015年第18期18070-18073,共4页
通过溶胶-凝胶法制备了一种稀土Ce掺杂的ZnO-Bi2O3压敏薄膜,对薄膜进行了XRD、AFM、介电与压敏性能的表征。结果表明,Ce掺杂不会影响ZnO-Bi2O3压敏薄膜的晶体结构,但是会减小ZnO-Bi2O3压敏薄膜的晶粒尺寸。Ce掺杂会降低ZnO-Bi2O3压敏薄... 通过溶胶-凝胶法制备了一种稀土Ce掺杂的ZnO-Bi2O3压敏薄膜,对薄膜进行了XRD、AFM、介电与压敏性能的表征。结果表明,Ce掺杂不会影响ZnO-Bi2O3压敏薄膜的晶体结构,但是会减小ZnO-Bi2O3压敏薄膜的晶粒尺寸。Ce掺杂会降低ZnO-Bi2O3压敏薄膜的漏电流,减小材料的介电损耗,提升ZnO-Bi2O3压敏薄膜的非线性性能。当Ce掺杂量达到0.3%(摩尔分数)时,ZnO-Bi2O3压敏薄膜的压敏电压达到了175V/mm,漏电流降低至502μA。 展开更多
关键词 ZNO 稀土 显微组织 压敏电阻 电学性能
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Effects of Eu_2O_3 doping on microstructural and electronic properties of ZnO Bi_2O_3-based varistor ceramics prepared by high-energy ball milling 被引量:1
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作者 董玉娟 崔凤单 +5 位作者 焦雷 徐红星 唐冬梅 吴婕婷 于仁红 徐东 《Journal of Central South University》 SCIE EI CAS 2013年第11期2947-2953,共7页
ZnO-Bi2O3-based varistor ceramics doped with EU2O3 in a range from 0 to 0.4% were obtained by high-energy ball milling and fired at 900-1000 ℃ for 2 h. XRD and SEM were applied to determine the phases and microstruct... ZnO-Bi2O3-based varistor ceramics doped with EU2O3 in a range from 0 to 0.4% were obtained by high-energy ball milling and fired at 900-1000 ℃ for 2 h. XRD and SEM were applied to determine the phases and microstructure of the varistor ceramics. A DC parameter instrument was applied to investigate the electronic properties and V-I characteristics. The XRD analysis of Eu2O3-doped ZnO-Bi2O3-based varistor ceramics shows that the ZnO, Eu-containing Bi-rich, Zn7Sb2O12-type spinel and Zn2Bi3Sb3O14-type which is the pyrochlore phase are present. With increasing Eu2O3 content, the average size of ZnO grain firstly decreases and then increases. The grain boundary defect model was particularly used to explain the excellent nonlinearity of ZnO-Bi2O3-based varistor ceramics with the addition of0.1% Eu2O3 and sintered at 950 ℃. 展开更多
关键词 CERAMICS VARISTORS rare earth microstructure electronic properties
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ZrO_2掺杂ZnO压敏瓷的性能及晶粒生长研究 被引量:1
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作者 何恺 吴婕婷 +4 位作者 于仁红 商铫 徐传孟 牟姝妤 徐东 《电瓷避雷器》 CAS 北大核心 2015年第4期73-77,共5页
以球磨法制备Zr O2掺杂Zn O压敏瓷,通过扫描电镜对其显微组织进行了分析,探讨了Zr O2掺杂对Zn O压敏瓷电性能的影响并且研究了晶粒的生长。研究结果表明,随着保温时间的延长,致密度和非线性系数均呈现先增加后减小的趋势;而对Zn O压敏... 以球磨法制备Zr O2掺杂Zn O压敏瓷,通过扫描电镜对其显微组织进行了分析,探讨了Zr O2掺杂对Zn O压敏瓷电性能的影响并且研究了晶粒的生长。研究结果表明,随着保温时间的延长,致密度和非线性系数均呈现先增加后减小的趋势;而对Zn O压敏瓷的漏电流和电位梯度的影响则呈现先减小后增加的波浪型变化。Zr O2掺杂Zn O压敏瓷的晶粒尺寸要比基础配方Zn O压敏瓷的晶粒尺寸要小,可能是因为Zr原子半径与Zn原子半径接近,Zr O2固溶在氧化锌晶粒中,抑制了氧化锌晶粒尺寸的增长。由计算可得Zr O2掺杂氧化锌压敏瓷的晶粒生长动力指数(n=5.0)比基础配方氧化锌压敏瓷的晶粒生长动力指数(n=3.9)大。球磨基础配方的Zn O-Bi2O3系压敏瓷的晶粒生长激活能(Q)较大,Q=(231±27)k J/mol。这可能是Zr O2协同尖晶石钉扎在Zn O压敏瓷的晶粒边界,通过颗粒阻滞机理使Zn O压敏瓷的晶粒生长速度降低,从而使Zn O压敏瓷的晶粒生长激活能增大。 展开更多
关键词 压敏电阻 氧化锌 电性能 晶粒生长 显微组织
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Highly nonlinear property and threshold voltage of Sc_2O_3 doped ZnO-Bi_2O_3-based varistor ceramics 被引量:5
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作者 徐东 吴婕婷 +4 位作者 焦雷 徐红星 张培枚 于仁红 程晓农 《Journal of Rare Earths》 SCIE EI CAS CSCD 2013年第2期158-163,共6页
A series of ZnO-Bi2O3-based varistor ceramics doped with 0-0.4 mol.% Sc2O3 were prepared by high-energy ball milling and sintered at temperatures between 1000 and 1150oC. X-ray diffractometry (XRD) and scanning elec... A series of ZnO-Bi2O3-based varistor ceramics doped with 0-0.4 mol.% Sc2O3 were prepared by high-energy ball milling and sintered at temperatures between 1000 and 1150oC. X-ray diffractometry (XRD) and scanning electron microscopy (SEM) were applied to characterize the phases and microstructure of the varistor ceramics. A DC parameter instrument for varistor ceramics was applied to investigate the electronic properties and V-I characteristics. The results showed that there were no changes in crystal structure with Sc2O3-doped varistor ceramics and that the average size of ZnO grain increased first and then decreased. The best electronic characteristics of the varistor ceramics prepared by high-energy ball milling were found in 0.3 mol.% Sc2O3-doped ZnO-Bi2O3 -based ceramics sintered at 1000 oC, which exhibited a threshold voltage of 821 V/mm, nonlinear coefficient of 62.1 and leakage current of 0.16 μA. 展开更多
关键词 CERAMICS VARISTORS rare earth alloys and compounds microstructure electrical properties
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